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集束イオンビーム加工装置

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装置名
(機種)

集束イオンビーム加工装置

(日立・FB-2000

設置年度

平成26年度

装置の概要

きわめて細く集束したGaイオンビームを試料表面で走査することにより、試料表面をナノメートルの精度で加工したり、発生した二次電子などを検出してSIM像を観察したりすることのできる装置です。
 薄膜材料表面の微細加工、特定箇所の断面及び平面TEMおよびSEM試料の作製など、ナノテクノロジー分野の研究に用いることができます。

装置の仕様
・特色

設置場所

コラボレーションセンター2階 208(クリーンルーム)

管理責任者

クリーンルームワーキンググループ
管理責任者
 自然科学研究科(工)林 靖彦(内線 8230
監守者
 自然科学研究科(理)武安伸幸 (内線 7845FIB装置 代表
 自然科学研究科(理)後藤秀徳 (内線 7797電子線描画装置 代表
 自然科学研究科(理)久保園芳博(内線 7850薄膜X線回折装置 代表
 自然科学研究科(工)林 靖彦 (内線 8230蒸着装置 代表
 医歯薬学研究科(薬)松浦 宏治 (内線 8966
 自然科学研究科(工)石川 篤 (内線 8140

利用資格等

平成27年度は、上記監守者メンバーおよびメンバーが承認した教員による試運転期間とする。(平成28年度から、学内共用予定)

利用の申請

未定

利用料金

未定

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