装置名 |
集束イオンビーム加工装置 (日立・FB-2000) |
設置年度 |
平成26年度 |
装置の概要 |
きわめて細く集束したGaイオンビームを試料表面で走査することにより、試料表面をナノメートルの精度で加工したり、発生した二次電子などを検出してSIM像を観察したりすることのできる装置です。 |
装置の仕様 |
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設置場所 |
コラボレーションセンター2階 208(クリーンルーム) |
管理責任者 |
クリーンルームワーキンググループ |
利用資格等 |
平成27年度は、上記監守者メンバーおよびメンバーが承認した教員による試運転期間とする。(平成28年度から、学内共用予定) |
利用の申請 |
未定 |
利用料金 |
未定 |