分析計測分野

高性能走査プローブ顕微鏡

装置名（機種）	高性能走査プローブ顕微鏡（Bruker 社製　高性能原子間力顕微鏡　マルチモード８型AFM）
設置年度	平成26年度
装置の概要	試料表面を細い針で走査することにより、試料表面の凹凸や硬さ、電気的な情報を比較的簡単に測定することができます。
装置の仕様・特色	測定可能モードコンタクトモードAFM，共振AFM（タッピングモード），ピークフォースAFM（ダイレクトフォースコントロールAFM），位相モード，摩擦力顕微鏡モード，フォースカーブ，フォースボリューム，電気力顕微鏡モード，表面電位顕微鏡モード，KPFMモード（機械特性と表面電位同時取得）測定可能サイズ高性能スキャナ（10x10x2.5um）広範囲スキャナ（125x125x5um）測定環境大気中，液中，加熱・冷却環境（-35℃から250℃まで）
設置場所	コラボレーションセンター棟　　３階３０９号室
管理責任者	管理責任者（自然科学研究科，内田哲也，8103）監守者（自然科学研究科，内田哲也，8103）
利用資格等	装置管理責任者によって教育を受け，使用の了解を得た者。プローブは使用者各自で準備してください。
利用の申請	管理責任者に申し出る。
利用料金	利用料金は後日、決定、連絡いたします。