番号 地区名 管理部局 設備名 規格 取得年度 設備の概要 費用負担 共同利用にあたっての
留意事項		 使用責任者
358 津島 自然生命科学研究支援センター 生体高分子用X線回折装置 RA-Micro7HFM  2010 タンパク質などの生体高分子の３次元立体構造を分子レベルで高精度に解析を行う。 使用時間に応じた費用負担が必要

 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科（理学部生物学科）
沈　建仁
(内線 8502)
359 津島 自然生命科学研究支援センター プロテオーム解析システム ultraflextreme TOF/TOF
（資産番号：140015004266～140015004276）		 2010 蛋白質の構造解析や発現解析ならびにタンパク質間相互作用などのタンパク質関連の解析に関する質の高い教育研究を実現する。 使用時間に応じた費用負担が必要

 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 自然生命科学
研究支援センター
大塚 正人
（内線 7262）
361 津島 自然生命科学研究支援センター ４００MHｚ　NMR装置 Varian 400-MR ASW 2010 低分子量の有機化合物から生体関連物質や高分子材料まで、広範囲の物質に関する分子構造の決定、電子状態や立体構造の解析 受益者負担
 利用希望者（本学教職員、大学院生）は、各学部担当の監守者に測定法を習った後、SC-NMR室の行う資格認定試験に合格しなければならない。 管理責任者：酒井 貴志（工 8090）
監守者長：
362 津島 自然生命科学研究支援センター ６００MHｚ　NMR装置 Varian NMR System PS600 2010 低分子量の有機化合物から生体関連物質や高分子材料まで、広範囲の物質に関する分子構造の決定、電子状態や立体構造の解析 受益者負担
 利用希望者（本学教職員、博士後期課程学生）は、各学部担当の監守者に測定法を習った後、SC-NMR室の行う資格認定試験に合格しなければならない。 管理責任者：酒井 貴志（工 8090）
監守者長：
343 津島 大学院医歯薬学総合研究科（薬） レーザーラマン分光光度計 日本分光（株）NRS-3100
（資産番号：F10000000000205）		 2010 水溶液中における化学物質の振動スペクトルの測定また固体試料の振動スペクトルの測定 使用時間に応じた費用負担が必要(\１０００/時間　予定） 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 医歯薬学総合研究科（薬学系）・御舩正樹　　　(内線 7952)
344 津島 大学院医歯薬学総合研究科（薬） トリプル四重極型LC/MS/MSシステム 米国エービー・サイエックス社製　API4000LC/MS/MSｼｽﾃﾑ
（資産番号：F10000000000206）		 2010 生体高分子から低分子化学物質まで、幅広い種類の物質を、微量でも極めて高感度でかつ迅速に行える質量分析システムである 使用料必要。
消耗品は使用者負担。　　　　　修理に際しては受益者負担。		 使用にあたっては予約が必要。　　　　　　　　　　　　　　　　使用者は、原則としてトレーニングを受けた者に限る。 医歯薬学総合研究科（薬学系）
管理責任者：根岸友惠（内線7946）　　　　　　　　　機器責任者：有元佐賀惠（内線7947）
402 津島 薬学部 汎用型NMR装置 日本電子（株）製　JNM-AL300型（300 MHz）
（資産番号：F10000000000342）		 2010 300MHz 超電導磁石を備えたフーリエ
変換核磁気共鳴装置およびワークス
テーションで構成されている。化合物
の構造決定のために使用する		 受益者負担
 利用希望者（本学教職員、院生、学生）は、所属する研究分野担当の監守者に測定法を習った後、監守者の行う資格認定試験に合格しなければならない。 医歯薬学総合研究科（薬学系）
管理責任者：加来田博貴
（薬 7963）
監守者長：信定弘美
（薬 7932）
330 三朝 地球物質科学研究センター 研究開発用ﾏｸﾞﾈﾄﾛﾝｽﾊﾟｯﾀﾘﾝｸﾞ装置 芝浦ﾒｶﾄﾛﾆｸｽ(株)製 2010 μメートル級の各種薄膜を形成する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 米田明
（内線 3762）
319 芳賀 工学部物質応用化学科 ガスクロマトグラフ装置 島津製作所
GC2014AFsc (オートインジェクター付)		 2009 オートインジェクター付きのガスクロマトグラフ装置。 なし 使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
（工学部）
押木 俊之
(内線286-8014）
382 芳賀 工学部物質応用化学科 高速液体クロマトシステム 日立 2009 254nm検出器つきの高速液体クロマトグラフ装置 なし(溶媒は持ち込み) 使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
（工学部）
押木 俊之
(内線286-8015）
384 芳賀 工学部物質応用化学科 有機合成装置 柴田科学　ケミストプラザ C-100 2009 外径30mm試験管5本、外径15mm試験管5本セット なし 使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
（工学部）
押木 俊之
(内線286-8017）
385 芳賀 工学部物質応用化学科 有機合成装置 柴田科学　ケミストプラザ C-100 2009 外径15mm試験管5本セット なし 使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
（工学部）
押木 俊之
(内線286-8018）
363 津島 自然科学研究科 高分解能質量分析計 日本電子(株)JMS-700 2009 高電圧真空中で試料をイオン化し、静電力により飛行するそのイオン群を電気・磁気作用で質量電荷比に応じて分離し、その比を横軸、検出強度を縦軸とする質量分析スペクトルを得るための装置である。とくに高分解能の質量分析を用いると、試料の分子式を明らかにすることができる。 装置の使用料、光熱費等は受益者負担。 設備の運営に関しては、監守者を数名決め、数グループで共同して行なっている。 自然科学研究科（工）
高井和彦（内8097）
372 津島 自然科学研究科 ﾊﾞｲｵｼﾞﾅｽ･ﾏﾃﾘｱﾙ･ﾅﾉｼｽﾃﾑ 日本電子(株)製　高分解能高精度透過電子顕微鏡　JEM-2100F　外 2009 材料の微細構造を原子レベルで観察・分析する。またFIBによるサンプリング等ができる。 利用時間に応じて負担。消耗品は実費負担。年度ごとにまとめて精算。 利用可能者と認定されればHPから予約・利用可能。 自然科学研究科
（工学部）髙田 潤
(内線 8106)
373 津島 自然科学研究科 ﾊﾞｲｵｼﾞﾅｽ･ﾏﾃﾘｱﾙ･ﾅﾉｼｽﾃﾑ GATAN製　ｴﾈﾙｷﾞｰﾌｨﾙﾀｰ装置 863 GIF TRIDIEM 2009 材料の微細領域でのEELS分析を行うことができる。 利用時間に応じて負担。消耗品は実費負担。年度ごとにまとめて精算。 利用可能者と認定されればHPから予約・利用可能。 自然科学研究科
（工学部）髙田 潤
(内線 8106)
4 津島 理学部 電子プローブマイクロアナライザー 日本電子㈱製　JXA8230 2009 本装置は、集束された電子ビームを固体試料の表面に照射し、発生する特性Ｘ線を分光結晶により回折して、その波長と強度を測定することによって、非破壊で試料に含まれる元素の定性、定量分析を行うものである。 特に設定していないが，消耗品を実費で負担 使用責任者の指示に従って使用 理学部（地）
柴田 次夫
（内線 7881）
323 三朝 地球物質科学研究センター 粉末X線回折装置 ㈱リガク製 2009 粉末試料の相同定、分析、結晶構造解析を行う。入射ミラーでCu Ka2をカットできる。 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 神崎正美　　（内線 3802）
324 三朝 地球物質科学研究センター 微小部X線回折装置 ㈱リガク製 2009 微小試料の相同定、分析、構造解析を行う。集光ミラーで１０ミクロン径の領域からの回折線をIP検出器で測定できる。Cu/Moターゲット使用可。 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 神崎正美　　（内線 3802）
325 三朝 地球物質科学研究センター 高精度安定同位体比質量分析計 独国ｻｰﾓﾌｨｯｼｬｰｻｲｴﾝﾃｨﾌｯｸ社製 2009 試料から抽出した気体成分をイオン化し、同位体比を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
326 三朝 地球物質科学研究センター 希ガス用同位対比測定用質量分析計 独国ｻｰﾓﾌｨｯｼｬｰｻｲｴﾝﾃｨﾌｯｸ社製 2009 試料から抽出した希ガス成分をイオン化し、同位体比を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
327 三朝 地球物質科学研究センター 透過電子顕微鏡 日本電子㈱製 2009 ナノスケールでの岩石・鉱物試料の透過電子線による観察・構造解析と、元素分析を行う装置。 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
328 三朝 地球物質科学研究センター 集束イオンビーム装置 日本電子㈱製 2009 試料を、マイクロスケールからナノスケールに加工・切断しTEM試料等を作成する装置。 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
329 三朝 地球物質科学研究センター 走査電子顕微鏡 日本電子㈱製 2009 岩石・鉱物試料の電子線による観察と、主成分元素の定量を実施する装置。 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
350 津島 農学部 高性能気液相導入質量分析装置 Bruker Daltonics, micrOTOF II他 2009 本装置は高性能気体液体分離部分と飛行時間型質量分析装置を直結した装置で、水や有機溶媒に可溶な各種生体試料を高い分離・精製能力と強力な構造解析能力で高精度に分析し、その結果はデータ処理され、精密質量測定、未知化合物の構造推定や同定など分子レベルでの研究に威力を発揮する。 使用時間に応じた費用負担が必要
学外解放を行うとすれば取り扱い方法など検討が必要となる。		 設置管理者が常駐していないので、使用責任者の指示に従うこと
依頼測定は基本的には不可、訓練を受けてもらう必要あり		 自然科学研究科
(農学)中島 修平
(内線 8302)
311 津島 工学部 全自動多目的Ｘ線回析装置 ﾊﾟﾅﾘﾃｨｶﾙ製 Ｘ'Ｐｅｒｔ Ｐｒｏｼｽﾃﾑ（140015002921） 2008 ＩＣＤＤﾃﾞｰﾀﾍﾞｰｽ､ﾃﾞｰﾀ解析ｿﾌﾄ附属のﾊﾟｰｿﾅﾙｺﾝﾋﾟｭｰﾀ(ＷｉｎｄｏｗｓＸＰ)及び17ｲﾝﾁ液晶ﾓﾆﾀｰとｲﾝｸｼﾞｪｯﾄｶﾗｰﾌﾟﾘﾝﾀｰ｡Ｘ線回析装置本体は､高圧発生器一体型ｷｬﾋﾞﾈｯﾄとｾﾗﾐｯｸＸ線管球､冷却水送水装置､多目的ｻﾝﾌﾟﾙｽﾃｰｼﾞ､ｽﾘｯﾄ(入射側と受光側光学系)､ﾌﾟﾛﾎﾟｰｼｮﾅﾙ検出器｡ 初年度装置の管理･保守に必要であった経費､ならびに総使用実績時間を勘案して､時間あたりの費用を算出する｡次年度以降は､その算出した時間あたり費用と使用実績から各研究ｸﾞﾙｰﾌﾟに使用料を請求する｡ 予約は､原則予約ｼｽﾃﾑ上で｡ｼｽﾃﾑは現在構築中。当面は､当初講習会の受講者に限る｡ 自然科学研究科
尾坂 明義
（内線 8212）		 追加
318 芳賀 工学部物質応用化学科 ガスクロマトグラフ装置 島津製作所
GC2014AFsc (オートインジェクター付)		 2007 オートインジェクター付きのガスクロマトグラフ装置。 なし 使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
（工学部）
押木 俊之
(内線286-8014）		 150の更新機器
383 芳賀 工学部物質応用化学科 マイクロ波合成装置 マイルストーンゼネラルStart S 2007 石英試験管(12mL) なし 使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
（工学部）
押木 俊之
(内線286-8016）		 追加
320 三朝 地球物質科学研究センター 微小領域レーザーサンプリング装置 New　Wave社製 2007 固体試料をレーザーアブレーションによりICP質量分析計に導入する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
317 芳賀 工学部物質応用化学科 光ファイバー・インライン型赤外分光計 メトラー
React IR ic10		 2006 液相の物質の赤外分光スペクトル(ダイヤモンドATR)を時間分解で自動測定する。自動波形処理により、中間体等の検出及び、反応速度を解析する。2009年に新型プローブを導入予定。 なし(液体窒素持ち込みの要求の場合有) 使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
（工学部）
押木 俊之
(内線286-8014）
92 津島 自然科学研究科 四重極ＬＣ／ＭＳ／ＭＳシステム 英国マイクロマス社
QUATTRO ULTIMA PT
(140011002529)		 2005 UPLCに完全対応できるハイエンドトリプル四重極MS/MSであるため、UPLC/MS/MSシステムとして、生体試料分析・臨床試験や食品・環境中の有害物質モニタリングなどに最適です。 使用時間に応じた費用負担が必要

 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
白石教授
93 津島 自然生命科学研究支援センター レーザーイオン化四重極イオントラップ飛行時間型質量分析装置 島津製作所
ＡＸＩＭＡ－ＱＩＴ
(140011002531)		 2005 イオンを四重極イオントラップ(QIT）で補足し、イオンの選択的分解を繰り返し行うMSn測定が可能なため、ペプチドや糖鎖の構造解析が可能です。 使用時間に応じた費用負担が必要

 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
白石教授　田村准教授
90 津島 農学部 誘導結合高周波プラズマ質量分析計 セイコーインスツルメンツ
ＳＰＱ９２００
(140011002528)		 2005 環境試料や半導体関連素材をはじめとした材料中の極微量分析において、高い威力を発揮します。 使用時間に応じた費用負担が必要

 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 自然科学研究科
白石教授
395 津島 自然生命科学研究支援センター 原子吸光分光光度計 島津製作所 AA-6300 2005 試料を高温で燃焼させることにより生じる原子が特定波長の光を吸収する性質を利用して、試料中の元素の定量を行う。 使用時間に応じた費用負担が必要

 使用方法に習熟している者、及びその指導の下で使用。 自然科学研究科
鈴木 孝義
(内線 7900）
394 津島 自然生命科学研究支援センター 元素分析装置 パーキン・エルマー社2400II 2004 　有機化合物を構成する主要元素を、燃焼分解によって定量的にH2O、CO2、N2等に変換し、各成分を熱伝導度検出器を用いてC、H、N等の含有量を求めることが出来る。 利用料金を徴収している，　
金額は分析計測分野ホームページに記載．		 依頼分析を受付けている，
（現在，共同利用は行なっていない．）		 自然生命科学研究支援ｾﾝﾀｰ分析計測分野　
多田宏子（内8746）　
20 津島 理学部 安定同位体比質量分析装置 英国GV INSTRUMENTS社製ISOPRIME-EA 2004 本装置は、硫黄・炭素・窒素を含む試料を元素分析計部に投入し，燃焼させた後，質量分析計部においてそれらの元素の安定同位体比を定量分析するものである。 消耗品は自己負担 学生も含めて使用可能，使用前講習不要（使用時に教育）。 理学部（地）
千葉 仁
（内線 7781）
307 津島 環境理工学部 微構造評価装置 日本電子 JSM-6380　 2004 試料の電子顕微鏡による微構造観察および組成分析ができる。 利用者に消耗品を負担してもらう場合がある。 利用方法等について指導を受ける必要あり。 環境学研究科
三宅 通博
（内線 8906）
293 三朝 地球物質科学研究センター マルチコレクタ表面電離型質量分析装置 サーモエレクトロン社製
ＴＲＩＴＯＮ　外
(140015000306)		 2004 試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
294 三朝 地球物質科学研究センター マルチコレクタＩＣＰ(誘導結合プラズマ)質量分析装置 サーモエレクトロン社製
ＮＥＰＴＵＮＥ　外
(140015000307)		 2004 溶液中の各種元素の同位体比をマルチコレクションシステムを用いて高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
83 津島 環境理工学部 吸着量測定装置 日本ベル㈱製　BELSORP18SP 2002 非腐食性ガスに対する吸着量を液体窒素温度から100℃までの温度範囲で測定できる。 使用時間に応じた費用負担が必要

学外開放にあたっては、取扱方法等要検討		 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 環境学研究科
三宅 通博
（内線 8906）
84 津島 環境理工学部 赤外表面分析装置 米国メトリコン社製
プリズムカプラ モデル2010		 2002 膜厚測定，屈折率とその深さ方向の分布測定，光導波特性の評価を行なうことができる。
励起光源：473，633，980，1550nm
屈折率測定：TE，TMモード，精度±0.0001以内		 使用時間に応じた費用負担が必要

学外開放にあたっては、取扱方法等要検討		 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 環境学研究科
難波 徳郎
（内線 8896）
146 津島 自然科学研究科 ＩＣＰ発光分光分析装置 セイコーインスツルメンツ製 VISTA-PRO
(140011001870-0000)		 2002 水溶液試料中の多元素（主に金属元素）の定量が可能。計測可能な濃度範囲はppm〜数 ppb。 使用時間に応じた費用負担が必要 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。測定は習熟した者，及びその指導のもとに利用者が行う。
自然科学研究科（理）
高柳俊夫
(内線 7845）
に変更（2010.5）
143 津島 自然科学研究科 表面近傍構造解析装置 理学電機　RINT 2001 粉末試料および膜試料のX線回折に基づき、物質の結晶構造および構造の温度依存性を解析できる。 学外は有料 利用方法等について指導を受ける必要あり。 環境学研究科
三宅 通博
（内線 8906）
16 津島 理学部 顕微鏡装置 ニコン偏向顕微鏡エクリプスE200POL 2000 本装置は，偏向顕微鏡ハイビジョン画像解析システムと組み合わせて利用する実習用偏向顕微鏡システムである。鉱物・結晶等についてハイビジョン画像により解説，説明を受けた後，各人が本装置によりその顕微鏡像を再現し，光学観察を行うことができる。同時に利用可能な人数は30名である。 なし 使用責任者の指示に従って使用 理学部（地）
柴田 次夫
（内線 7881）
17 津島 理学部 偏向顕微鏡ハイビジョン画像解析システム ニコン偏向顕微鏡エクリプスE600POL，Nexus顕微鏡画像解析システム　外 2000 岩石の顕微鏡ハイビジョン画像より，目的とする結晶・岩片粒子の形状計測と計測結果の統計処理を行うものである。 なし 使用責任者の指示に従って使用 理学部（地）
柴田 次夫
（内線 7881）
289 三朝 地球物質科学研究センター 顕微同位体解析システム カメカ社製　　　　　　　　　　1270型　外
(140011000187)		 1999 マイクロメータースケールの局所領域における同位体比及び微量元素濃度を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
136 津島 自然生命科学研究支援センター ﾍﾞｸﾄﾙ・ﾈｯﾄﾜｰｸｱﾅﾗｲｻﾞ ｱﾝﾘﾂ37169Aﾍﾞｸﾄﾙﾈｯﾄﾜｰｸｱﾅﾗｲｻﾞ 1997 液体および固体の誘電率を測定し，構造解析を行う。

周波数レンジ：22.5 MHz ～ 40 GHz
データ・ポイント数：1601ポイント
表示チャンネル数：４チャンネル
不要

学外開放にあたっては、取扱方法等要検討		 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 環境学研究科
西垣 誠
（内線 8164）
125 津島 自然科学研究科 蛍光寿命測定装置 東京ｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ
SL404G-10UPG他		 1996 Nd-YAGレーザーにより，蛍光測定，SHG測定が可能。 使用時間に応じた費用負担が必要

学外開放にあたっては、取扱方法等要検討		 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 環境学研究科
難波 徳郎
(内線 8896）
131 津島 自然科学研究科 固体及び多核測定用核磁気共鳴装置 バリアン社UNITY　INOVA　300WB 1996 固体中の各種原子の核磁気共鳴現象を観測することによって原子周囲の局所構造解析を行うことができる。 現在無償で依頼測定に応じている。訓練を受けた利用者には開放している。 利用方法等について指導を受ける必要あり。予約制。 自然科学研究科
尾坂 明義
(内線 8212）
285 三朝 地球物質科学研究センター 電子顕微鏡システム 日立㈱製
Ｓ-3100Ｈ　外		 1996 マイクロメータースケールの局所領域における同位体比及び微量元素濃度を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
286 三朝 地球物質科学研究センター 蛍光X線分析システム フィリップス社製
ＰＷ2400　外		 1996 岩石試料の全岩主要元素組成を精密に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
287 三朝 地球物質科学研究センター 質量分析システム フィニガンマット社製
ＥＬＥＭＥＮＴ　外		 1996 溶液中の各種元素濃度を高分解能質量分析によって高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
280 三朝 地球物質科学研究センター 絶縁物･同位体分析システム カメカ社製
垂直入射電子銃  外		 1995 二次イオン質量分析計に付帯し、その分析空間解像度を改善する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
281 三朝 地球物質科学研究センター 質量分析システム フィニガンマット社製
ＭＡＴ262Ｖ　外		 1995 試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
283 三朝 地球物質科学研究センター 質量分析システム フィニガンマット社製
ＭＡＴ262　外		 1995 試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
277 三朝 地球物質科学研究センター 微小領域観察・分析システム カメカ社製
ﾀﾞｲﾅﾐｯｸﾄﾗﾝｽﾌｧｰ  外		 1994 二次イオン質量分析計に付帯し、その分析空間解像度を改善する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
278 三朝 地球物質科学研究センター 質量分析システム フィニガンマット社製
ＭＡＴ262　外		 1994 試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
279 三朝 地球物質科学研究センター X線マイクロアナライザ 日本電子㈱製
ＪＸＡ-8800　外		 1994 主に岩石・鉱物試料の化学組成を2次元空間において定量的に測定する。 地球研負担 スタッフあるいは技術補佐員が指導する 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
110 津島 自然生命科学研究支援センター 円二色分散計 日本分光　J-720 1993 溶液状態の物質の円二色性を測定して、光学活性化合物の絶対配置あるいは絶対構造を決定できる。 使用時間に応じた負担 予約制。利用方法等について指導を受ける必要あり。 自然科学研究科
鈴木 孝義
(内線 7900）
275 三朝 地球物質科学研究センター 二次イオン質量分析計 カメカ社製　ＩＭＳ-5Ｆ　外 1993 マイクロメータースケールの局所領域における微量元素濃度を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
108 津島 自然科学研究科 固体表面分析装置 Fisons Instruments
S-Probe ESCA SSX-100S		 1992 X線光電子分光装置
単色化Al-Ka線を備え，ワイドスキャンによる元素分析とナロースキャンによる内殻電子のスペクトルと価電子帯スペクトルの測定が可能。
試料の破断による新鮮表面の観察が可能。
Niメッシュによる絶縁体試料の高分解測定が可能。		 使用時間に応じた費用負担が必要

学外開放にあたっては、取扱方法等要検討		 設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。 環境学研究科
難波 徳郎
(内線 8896）
271 三朝 地球物質科学研究センター 質量分析システム フィニガンマット社製
ＭＡＴ261　外		 1987 試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）
272 三朝 地球物質科学研究センター 質量分析システム ＶＧアイソトープス
ＶＧ5400　外		 1987 試料より抽出された希ガスの同位体比を決定する装置。主にK-Ar法による年代測定に用いられる。 地球研負担 使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。 地球研 中村 栄三
（内線 3745）