番号	地区名	管理部局	設備名	規格	取得年度	設備の概要	費用負担	共同利用にあたっての 留意事項	使用責任者
358	津島	自然生命科学研究支援センター	生体高分子用X線回折装置	RA-Micro7HFM	2010	タンパク質などの生体高分子の３次元立体構造を分子レベルで高精度に解析を行う。	使用時間に応じた費用負担が必要	設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。	自然科学研究科（理学部生物学科） 沈　建仁 (内線 8502)
361	津島	自然生命科学研究支援センター	４００MHｚ　NMR装置	Varian 400-MR ASW	2010	低分子量の有機化合物から生体関連物質や高分子材料まで、広範囲の物質に関する分子構造の決定、電子状態や立体構造の解析	受益者負担	利用希望者（本学教職員、大学院生）は、各学部担当の監守者に測定法を習った後、SC-NMR室の行う資格認定試験に合格しなければならない。	管理責任者：酒井 貴志（工 8090） 監守者長：
362	津島	自然生命科学研究支援センター	６００MHｚ　NMR装置	Varian NMR System PS600	2010	低分子量の有機化合物から生体関連物質や高分子材料まで、広範囲の物質に関する分子構造の決定、電子状態や立体構造の解析	受益者負担	利用希望者（本学教職員、博士後期課程学生）は、各学部担当の監守者に測定法を習った後、SC-NMR室の行う資格認定試験に合格しなければならない。	管理責任者：酒井 貴志（工 8090） 監守者長：
343	津島	大学院医歯薬学総合研究科（薬）	レーザーラマン分光光度計	日本分光（株）NRS-3100 （資産番号：F10000000000205）	2010	水溶液中における化学物質の振動スペクトルの測定また固体試料の振動スペクトルの測定	使用時間に応じた費用負担が必要(\１０００/時間　予定）	設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。	医歯薬学総合研究科（薬学系）・御舩正樹　　　(内線 7952)
330	三朝	地球物質科学研究センター	研究開発用ﾏｸﾞﾈﾄﾛﾝｽﾊﾟｯﾀﾘﾝｸﾞ装置	芝浦ﾒｶﾄﾛﾆｸｽ(株)製	2010	μメートル級の各種薄膜を形成する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 米田明 （内線 3762）
319	芳賀	工学部物質応用化学科	ガスクロマトグラフ装置	島津製作所 GC2014AFsc (オートインジェクター付)	2009	オートインジェクター付きのガスクロマトグラフ装置。	なし	使用責任者の指示に従ってください。	自然科学研究科 （工学部） 押木 俊之 (内線286-8014）
382	芳賀	工学部物質応用化学科	高速液体クロマトシステム	日立	2009	254nm検出器つきの高速液体クロマトグラフ装置	なし(溶媒は持ち込み)	使用責任者の指示に従ってください。	自然科学研究科 （工学部） 押木 俊之 (内線286-8015）
384	芳賀	工学部物質応用化学科	有機合成装置	柴田科学　ケミストプラザ C-100	2009	外径30mm試験管5本、外径15mm試験管5本セット	なし	使用責任者の指示に従ってください。	自然科学研究科 （工学部） 押木 俊之 (内線286-8017）
385	芳賀	工学部物質応用化学科	有機合成装置	柴田科学　ケミストプラザ C-100	2009	外径15mm試験管5本セット	なし	使用責任者の指示に従ってください。	自然科学研究科 （工学部） 押木 俊之 (内線286-8018）
363	津島	自然科学研究科	高分解能質量分析計	日本電子(株)JMS-700	2009	高電圧真空中で試料をイオン化し、静電力により飛行するそのイオン群を電気・磁気作用で質量電荷比に応じて分離し、その比を横軸、検出強度を縦軸とする質量分析スペクトルを得るための装置である。とくに高分解能の質量分析を用いると、試料の分子式を明らかにすることができる。	装置の使用料、光熱費等は受益者負担。	設備の運営に関しては、監守者を数名決め、数グループで共同して行なっている。	自然科学研究科（工） 高井和彦（内8097）
372	津島	自然科学研究科	ﾊﾞｲｵｼﾞﾅｽ･ﾏﾃﾘｱﾙ･ﾅﾉｼｽﾃﾑ	日本電子(株)製　高分解能高精度透過電子顕微鏡　JEM-2100F　外	2009	材料の微細構造を原子レベルで観察・分析する。またFIBによるサンプリング等ができる。	利用時間に応じて負担。消耗品は実費負担。年度ごとにまとめて精算。	利用可能者と認定されればHPから予約・利用可能。	自然科学研究科 （工学部）��田 潤 (内線 8106)
373	津島	自然科学研究科	ﾊﾞｲｵｼﾞﾅｽ･ﾏﾃﾘｱﾙ･ﾅﾉｼｽﾃﾑ	GATAN製　ｴﾈﾙｷﾞｰﾌｨﾙﾀｰ装置 863 GIF TRIDIEM	2009	材料の微細領域でのEELS分析を行うことができる。	利用時間に応じて負担。消耗品は実費負担。年度ごとにまとめて精算。	利用可能者と認定されればHPから予約・利用可能。	自然科学研究科 （工学部）��田 潤 (内線 8106)
4	津島	理学部	電子プローブマイクロアナライザー	日本電子�叶ｻ　JXA8230	2009	本装置は、集束された電子ビームを固体試料の表面に照射し、発生する特性Ｘ線を分光結晶により回折して、その波長と強度を測定することによって、非破壊で試料に含まれる元素の定性、定量分析を行うものである。	特に設定していないが，消耗品を実費で負担	使用責任者の指示に従って使用	理学部（地） 柴田 次夫 （内線 7881）
323	三朝	地球物質科学研究センター	粉末X線回折装置	�潟潟Kク製	2009	粉末試料の相同定、分析、結晶構造解析を行う。入射ミラーでCu Ka2をカットできる。	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 神崎正美　　（内線 3802）
324	三朝	地球物質科学研究センター	微小部X線回折装置	�潟潟Kク製	2009	微小試料の相同定、分析、構造解析を行う。集光ミラーで１０ミクロン径の領域からの回折線をIP検出器で測定できる。Cu/Moターゲット使用可。	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 神崎正美　　（内線 3802）
325	三朝	地球物質科学研究センター	高精度安定同位体比質量分析計	独国ｻｰﾓﾌｨｯｼｬｰｻｲｴﾝﾃｨﾌｯｸ社製	2009	試料から抽出した気体成分をイオン化し、同位体比を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
326	三朝	地球物質科学研究センター	希ガス用同位対比測定用質量分析計	独国ｻｰﾓﾌｨｯｼｬｰｻｲｴﾝﾃｨﾌｯｸ社製	2009	試料から抽出した希ガス成分をイオン化し、同位体比を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
327	三朝	地球物質科学研究センター	透過電子顕微鏡	日本電子�叶ｻ	2009	ナノスケールでの岩石・鉱物試料の透過電子線による観察・構造解析と、元素分析を行う装置。	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
328	三朝	地球物質科学研究センター	集束イオンビーム装置	日本電子�叶ｻ	2009	試料を、マイクロスケールからナノスケールに加工・切断しTEM試料等を作成する装置。	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
329	三朝	地球物質科学研究センター	走査電子顕微鏡	日本電子�叶ｻ	2009	岩石・鉱物試料の電子線による観察と、主成分元素の定量を実施する装置。	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）	追加
350	津島	農学部	高性能気液相導入質量分析装置	Bruker Daltonics, micrOTOF II他	2009	本装置は高性能気体液体分離部分と飛行時間型質量分析装置を直結した装置で、水や有機溶媒に可溶な各種生体試料を高い分離・精製能力と強力な構造解析能力で高精度に分析し、その結果はデータ処理され、精密質量測定、未知化合物の構造推定や同定など分子レベルでの研究に威力を発揮する。	使用時間に応じた費用負担が必要 学外解放を行うとすれば取り扱い方法など検討が必要となる。	設置管理者が常駐していないので、使用責任者の指示に従うこと 依頼測定は基本的には不可、訓練を受けてもらう必要あり	自然科学研究科 (農学)中島 修平 (内線 8302)	150の更新機器
311	津島	工学部	全自動多目的Ｘ線回析装置	ﾊﾟﾅﾘﾃｨｶﾙ製 Ｘ'Ｐｅｒｔ Ｐｒｏｼｽﾃﾑ（140015002921）	2008	ＩＣＤＤﾃﾞｰﾀﾍﾞｰｽ､ﾃﾞｰﾀ解析ｿﾌﾄ附属のﾊﾟｰｿﾅﾙｺﾝﾋﾟｭｰﾀ(ＷｉｎｄｏｗｓＸＰ)及び17ｲﾝﾁ液晶ﾓﾆﾀｰとｲﾝｸｼﾞｪｯﾄｶﾗｰﾌﾟﾘﾝﾀｰ｡Ｘ線回析装置本体は､高圧発生器一体型ｷｬﾋﾞﾈｯﾄとｾﾗﾐｯｸＸ線管球､冷却水送水装置､多目的ｻﾝﾌﾟﾙｽﾃｰｼﾞ､ｽﾘｯﾄ(入射側と受光側光学系)､ﾌﾟﾛﾎﾟｰｼｮﾅﾙ検出器｡	初年度装置の管理･保守に必要であった経費､ならびに総使用実績時間を勘案して､時間あたりの費用を算出する｡次年度以降は､その算出した時間あたり費用と使用実績から各研究ｸﾞﾙｰﾌﾟに使用料を請求する｡	予約は､原則予約ｼｽﾃﾑ上で｡ｼｽﾃﾑは現在構築中。当面は､当初講習会の受講者に限る｡	自然科学研究科 尾坂 明義 （内線 8212）	追加
318	芳賀	工学部物質応用化学科	ガスクロマトグラフ装置	島津製作所 GC2014AFsc (オートインジェクター付)	2007	オートインジェクター付きのガスクロマトグラフ装置。	なし	使用責任者の指示に従ってください。	自然科学研究科 （工学部） 押木 俊之 (内線286-8014）
383	芳賀	工学部物質応用化学科	マイクロ波合成装置	マイルストーンゼネラルStart S	2007	石英試験管(12mL)	なし	使用責任者の指示に従ってください。	自然科学研究科 （工学部） 押木 俊之 (内線286-8016）
320	三朝	地球物質科学研究センター	微小領域レーザーサンプリング装置	New　Wave社製	2007	固体試料をレーザーアブレーションによりICP質量分析計に導入する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
317	芳賀	工学部物質応用化学科	光ファイバー・インライン型赤外分光計	メトラー React IR ic10	2006	液相の物質の赤外分光スペクトル(ダイヤモンドATR)を時間分解で自動測定する。自動波形処理により、中間体等の検出及び、反応速度を解析する。2009年に新型プローブを導入予定。	なし(液体窒素持ち込みの要求の場合有)	使用責任者の指示に従ってください。	自然科学研究科 （工学部） 押木 俊之 (内線286-8014）
395	津島	自然生命科学研究支援センター	原子吸光分光光度計	島津製作所 AA-6300	2005	試料を高温で燃焼させることにより生じる原子が特定波長の光を吸収する性質を利用して、試料中の元素の定量を行う。	使用時間に応じた費用負担が必要	使用方法に習熟している者、及びその指導の下で使用。	自然科学研究科 鈴木 孝義 (内線 7900）
394	津島	自然生命科学研究支援センター	元素分析装置	パーキン・エルマー社2400II	2004	有機化合物を構成する主要元素を、燃焼分解によって定量的にH2O、CO2、N2等に変換し、各成分を熱伝導度検出器を用いてC、H、N等の含有量を求めることが出来る。	利用料金を徴収している，　 金額は分析計測分野ホームページに記載．	依頼分析を受付けている， （現在，共同利用は行なっていない．）	自然生命科学研究支援ｾﾝﾀｰ分析計測分野　 多田宏子（内8746）
293	三朝	地球物質科学研究センター	マルチコレクタ表面電離型質量分析装置	サーモエレクトロン社製 ＴＲＩＴＯＮ　外 (140015000306)	2004	試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
294	三朝	地球物質科学研究センター	マルチコレクタＩＣＰ(誘導結合プラズマ)質量分析装置	サーモエレクトロン社製 ＮＥＰＴＵＮＥ　外 (140015000307)	2004	溶液中の各種元素の同位体比をマルチコレクションシステムを用いて高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
83	津島	環境理工学部	吸着量測定装置	日本ベル�叶ｻ　BELSORP18SP	2002	非腐食性ガスに対する吸着量を液体窒素温度から100℃までの温度範囲で測定できる。	使用時間に応じた費用負担が必要 学外開放にあたっては、取扱方法等要検討	設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。	環境学研究科 三宅 通博 （内線 8906）
84	津島	環境理工学部	赤外表面分析装置	米国メトリコン社製 プリズムカプラ モデル2010	2002	膜厚測定，屈折率とその深さ方向の分布測定，光導波特性の評価を行なうことができる。 励起光源：473，633，980，1550nm 屈折率測定：TE，TMモード，精度±0.0001以内	使用時間に応じた費用負担が必要 学外開放にあたっては、取扱方法等要検討	設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。	環境学研究科 難波 徳郎 （内線 8896）
146	津島	自然科学研究科	ＩＣＰ発光分光分析装置	セイコーインスツルメンツ製 VISTA-PRO (140011001870-0000)	2002	水溶液試料中の多元素（主に金属元素）の定量が可能。計測可能な濃度範囲はppm〜数 ppb。	使用時間に応じた費用負担が必要	設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。測定は習熟した者，及びその指導のもとに利用者が行う。	自然科学研究科（理） 高柳俊夫 (内線 7845） に変更（2010.5）
143	津島	自然科学研究科	表面近傍構造解析装置	理学電機　RINT	2001	粉末試料および膜試料のX線回折に基づき、物質の結晶構造および構造の温度依存性を解析できる。	学外は有料	利用方法等について指導を受ける必要あり。	環境学研究科 三宅 通博 （内線 8906）
17	津島	理学部	偏向顕微鏡ハイビジョン画像解析システム	ニコン偏向顕微鏡エクリプスE600POL，Nexus顕微鏡画像解析システム　外	2000	岩石の顕微鏡ハイビジョン画像より，目的とする結晶・岩片粒子の形状計測と計測結果の統計処理を行うものである。	なし	使用責任者の指示に従って使用	理学部（地） 柴田 次夫 （内線 7881）
289	三朝	地球物質科学研究センター	顕微同位体解析システム	カメカ社製　　　　　　　　　　1270型　外 (140011000187)	1999	マイクロメータースケールの局所領域における同位体比及び微量元素濃度を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
136	津島	自然生命科学研究支援センター	ﾍﾞｸﾄﾙ・ﾈｯﾄﾜｰｸｱﾅﾗｲｻﾞ	ｱﾝﾘﾂ37169Aﾍﾞｸﾄﾙﾈｯﾄﾜｰｸｱﾅﾗｲｻﾞ	1997	液体および固体の誘電率を測定し，構造解析を行う。 周波数レンジ：22.5 MHz 〜 40 GHz データ・ポイント数：1601ポイント 表示チャンネル数：４チャンネル	不要 学外開放にあたっては、取扱方法等要検討	設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。	環境学研究科 西垣 誠 （内線 8164）
125	津島	自然科学研究科	蛍光寿命測定装置	東京ｲﾝｽﾂﾙﾒﾝﾂ SL404G-10UPG他	1996	Nd-YAGレーザーにより，蛍光測定，SHG測定が可能。	使用時間に応じた費用負担が必要 学外開放にあたっては、取扱方法等要検討	設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。	環境学研究科 難波 徳郎 (内線 8896）
131	津島	自然科学研究科	固体及び多核測定用核磁気共鳴装置	バリアン社UNITY　INOVA　300WB	1996	固体中の各種原子の核磁気共鳴現象を観測することによって原子周囲の局所構造解析を行うことができる。	現在無償で依頼測定に応じている。訓練を受けた利用者には開放している。	利用方法等について指導を受ける必要あり。予約制。	自然科学研究科 尾坂 明義 (内線 8212）
285	三朝	地球物質科学研究センター	電子顕微鏡システム	日立�叶ｻ Ｓ-3100Ｈ　外	1996	マイクロメータースケールの局所領域における同位体比及び微量元素濃度を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
286	三朝	地球物質科学研究センター	蛍光X線分析システム	フィリップス社製 ＰＷ2400　外	1996	岩石試料の全岩主要元素組成を精密に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
287	三朝	地球物質科学研究センター	質量分析システム	フィニガンマット社製 ＥＬＥＭＥＮＴ　外	1996	溶液中の各種元素濃度を高分解能質量分析によって高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
280	三朝	地球物質科学研究センター	絶縁物･同位体分析システム	カメカ社製 垂直入射電子銃  外	1995	二次イオン質量分析計に付帯し、その分析空間解像度を改善する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
281	三朝	地球物質科学研究センター	質量分析システム	フィニガンマット社製 ＭＡＴ262Ｖ　外	1995	試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
283	三朝	地球物質科学研究センター	質量分析システム	フィニガンマット社製 ＭＡＴ262　外	1995	試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
277	三朝	地球物質科学研究センター	微小領域観察・分析システム	カメカ社製 ﾀﾞｲﾅﾐｯｸﾄﾗﾝｽﾌｧｰ  外	1994	二次イオン質量分析計に付帯し、その分析空間解像度を改善する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
278	三朝	地球物質科学研究センター	質量分析システム	フィニガンマット社製 ＭＡＴ262　外	1994	試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
279	三朝	地球物質科学研究センター	X線マイクロアナライザ	日本電子�叶ｻ ＪＸＡ-8800　外	1994	主に岩石・鉱物試料の化学組成を2次元空間において定量的に測定する。	地球研負担	スタッフあるいは技術補佐員が指導する	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
110	津島	自然生命科学研究支援センター	円二色分散計	日本分光　J-720	1993	溶液状態の物質の円二色性を測定して、光学活性化合物の絶対配置あるいは絶対構造を決定できる。	使用時間に応じた負担	予約制。利用方法等について指導を受ける必要あり。	自然科学研究科 鈴木 孝義 (内線 7900）
275	三朝	地球物質科学研究センター	二次イオン質量分析計	カメカ社製　ＩＭＳ-5Ｆ　外	1993	マイクロメータースケールの局所領域における微量元素濃度を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
108	津島	自然科学研究科	固体表面分析装置	Fisons Instruments S-Probe ESCA SSX-100S	1992	X線光電子分光装置 単色化Al-Ka線を備え，ワイドスキャンによる元素分析とナロースキャンによる内殻電子のスペクトルと価電子帯スペクトルの測定が可能。 試料の破断による新鮮表面の観察が可能。 Niメッシュによる絶縁体試料の高分解測定が可能。	使用時間に応じた費用負担が必要 学外開放にあたっては、取扱方法等要検討	設備管理者が常駐していませんので、使用責任者の指示に従ってください。	環境学研究科 難波 徳郎 (内線 8896）
271	三朝	地球物質科学研究センター	質量分析システム	フィニガンマット社製 ＭＡＴ261　外	1987	試料から抽出した各種元素単体を表面電離によってイオン化して同位体比を高精度に測定する装置	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）
272	三朝	地球物質科学研究センター	質量分析システム	ＶＧアイソトープス ＶＧ5400　外	1987	試料より抽出された希ガスの同位体比を決定する装置。主にK-Ar法による年代測定に用いられる。	地球研負担	使用に当たっては担当者の指導の下で使用すること。	地球研 中村 栄三 （内線 3745）