装置名
（機種）

電子プローブマイクロアナライザー
（日本電子株式会社　JXA8230）

設置年度

平成21年度

装置の概要

　本装置は，電子光学技術，X線分光計測技術，データ処理技術などが集大成 された，極めて汎用性の高い表面分析装置で，₅B〜₉₂Uに至るサブミクロン 領域の元素分析から10cm角程度の領域までを対象とした各種の観察・分析・ 画像解析を行うことができ，天然及び合成複合物質の研究，特に鉱物，セラミック， 金属・鉄鋼，半導体，繊維，医科歯科材料，生物など非常に広範囲な分野における 基礎研究や応用研究および品質管理などで使用される。

装置の仕様
・特色

　1）波長分散型X線分光器4基とエネルギー分散型X線検出器を装備し，それぞれの 長所を活かした利用の仕方ができ，且つ両者のデータを同時に処理できる。
2）電子銃にWフィラメントとLaB₆フィラメントが使用できる。
3）薄片試料の透過光観察が可能な透過照明装置を装備している。

設置場所

コラボレーションセンター３階　分光分析室I（内8750）

管理責任者

機器管理責任者
理学部地球科学科　准教授　野坂俊夫（内7883）
監守者　　　　　　　　　　　　　
理学部地球科学科　准教授　野坂俊夫（内7883）

利用資格等

原則として利用講習を受講済の者。

利用の申請

初めて利用する場合は，機器管理責任者か監守者に申請する。その他 の場合は， 分析計測分野WEBぺージの 機器予約システム を 用いて申請する。