| 装置名 （機種） | DC&ACホール測定システム（東陽テクニカ社ResiTest8320) |
|---|---|
| 設置年度 （部局） | 平成８年度（工学部） |
| 装置の概要 | Van der Pauw法により、比抵抗やホール起電圧を測定し、半導体材料のキャリヤ濃度、キャリヤ移動度等を求める。DC&AC磁場で、 微小ホール電圧測定が可能である。また、試料保持部を交換することにより、極低温から高温までの幅広い温度領域での測定が可能である。 |
| 装置の仕様 ・特色 | 電気抵抗測定範囲：1.0×10-5〜1012Ω ホール電圧測定限界：10-8V 最大磁界：±7 kOe 測定温度範囲：4.2 K 〜室温〜500 ℃ |
| 設置場所 | 工学部精密応用化学科別棟２階 |
| 管理責任者 | 工学部精密応用化学科教授 高田 潤(内8106） 講師 藤井達夫(内8107） 監守者 助手 中西 真(内8107) 監守者 |
| 利用資格等 | 教官、大学院生。 |
| 利用の申請 | 直接管理者に申し出る。 |
